Optris Pi 640i termiskais mikroskops precīzai infrasarkanajai mērīšanai

Mikroskopa objektīvi PI 640i tiešsaistes termokamerai ir paredzēti precīzai elektronisko plates, mikroelektronisko mezglu un mikroshēmu līmeņa komponentu termiskajai pārbaudei. Tie nodrošina telpisko izšķirtspēju līdz 28 µm. Apvienojumā ar PI 640i tiešsaistes termokameru šis termiskais mikroskopa komplekts ir ideāli piemērots laboratorijas analīzei, produktu izstrādei, validācijai un bojājumu analīzei elektronikas un pusvadītāju nozarē.

Sistēma ļauj strādāt bez roku iesaistes, vienlaikus veicot testēšanu, zondēšanu un temperatūras mērījumus, padarot to par jaudīgu risinājumu detalizētiem termiskajiem pētījumiem. Darba attālums ir 80–100 mm, kas nodrošina stabilu fokusēšanu un nemainīgus mērījumu apstākļus. VGA detektora izšķirtspēja ir 640 × 480 pikseļi, bet pikseļa solis — 17 µm, optimizēts garo viļņu infrasarkanajam diapazonam (8–14 µm). Tas nodrošina augstu attēla kvalitāti, zemu termisko troksni un temperatūras izšķirtspēju līdz 80 mK.

Minimālais mērījumu lauks (MFOV) tikai 3 × 3 pikseļi ļauj PI 640i termiskajam mikroskopam precīzi izmērīt temperatūru uz ļoti maziem objektiem, izvairoties no tipiskām kļūdām, ko izraisa termiskie tilti, kā tas bieži notiek ar kontaktmērītājiem. Kadru ātrums līdz 125 Hz ļauj analizēt straujas termiskās izmaiņas, piemēram, impulsu lāzera diodēs vai ātri pārslēdzošos elektroniskos komponentos.

Komplektā ietilpst Vācijā izstrādāta maināma mikroskopa optika, precīzs montāžas statīvs un bezlicences programmatūra optris PIX Connect, kas pilnībā atbalsta SDK Windows un Linux vidēm. Papildu piederumi, tostarp maināmi objektīvi, industriālie procesu interfeisi un pagarināti USB kabeļi, nodrošina elastīgu integrāciju automatizētās testēšanas sistēmās.

Kā tiešsaistes termokameras sistēma PI 640i termiskais mikroskops nodrošina inženieriem uzticamus bezkontakta temperatūras datus, palielina mērījumu drošību un sniedz vērtīgu termisko informāciju prasīgiem mikromēroga pielietojumiem.

PI 640i — infrasarkanā mikroskopa komplekts precīziem temperatūras mērījumiem elektroniskajām platēm un mikrokomponentiem — galvenās īpašības:

• Mikroshēmu un komponentu analīze līdz 28 µm

• Spektrālais diapazons: 8–14 µm

• Augsta izšķirtspēja 640 × 480 pikseļi

• Kadru ātrums: 32 Hz, līdz 125 Hz apakšattēliem

• Temperatūras izšķirtspēja (NETD) 80 mK

• Maināma, fokusējama optika maksimālai elastībai

• Mikroskopa statīvs darbam bez roku iesaistes testēšanas laikā

• Maināmi, fokusējami objektīvi universālai kameras lietošanai